Angriffe auf Mikrochips durch die Rueckseite

starbug

Hersteller von Sicherheits-ICs haben in den letzten Jahren viel Arbeit in die Absicherung ihrer Produkte gesteckt. Dabei konzentrierten sie sich aber hauptsächlich auf die Vorderseite des Chips. Der Vortrag beschäftigt sich mit der nächsten großen Spielwiese von Chip-Hackern. Er beleuchtet Probingangriffe mittels Focused Ion Beam und die direkte Überwachung von schaltenden Transistoren durch die Analyse von optischen Seitenkanälen.

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